
超声波扫描显微镜OKOS Vue400P
超声波扫描显微镜,通常称做SAM或者SAT是检测离层、裂痕和其他缺陷必不可少的工具. 它不仅能检测出缺陷,更能清楚的指出缺陷的位置.
OKOS设备和核心部件被广泛应用于各种材料的无损检测,包括半导体,汽车零件和其他先进元件。 公司拥有独立开发的软件,核心硬件和专利技术,这么多年来通过和客户的不断合作,实现了SAT技术的不断创新和突破。
OKOS努力提供最准确的数据,完美的图像质量,非凡的操作性和设备的高可靠性,从而为客户提高效率,节约成本。
Vue400-P技术参数
设备模式 单探头扫描,双探头扫描
超声波扫描模式 A-Scan (点扫描)、B-Scan (截面扫描)、C-Scan、
Multi-Scan (多层扫描)、T-Scan (穿透式扫描)、
Tray-Scan (盘扫描)、Jump-Scan (跳跃扫描)、
HTS (高速扫描)、SALI-Scan(断层显微成象扫描)
最大分辨率 10000X10000像素
最大扫描区域 380mmX350mmX50mm(xyz)
最高扫描速度 1500mm/s
超声波探头频率 10-220MHz
设备尺寸 860mm x 900mm x 1180mm(dwh)
OKOS 技术优势
软件:
独立开发,基于Win10系统
可编程自动扫描
离线分析能力
SALI断层成像扫描
先进的数据分析模式
FFT扫描模式
硬件:
双探头扫描模式
独立开发设计的全球最高性能A/D board,频率可以达到3GHz
独立开发设计的定制探头/传感器
模块化的设计

超声波扫描显微镜OKOS VUE250P(桌面型)
OKOS VUE250P是为小型实验室,研究所提供的桌上型超声波扫描显微镜, 其设备能提供与VUE400P同样准确的数据,完美的图像质量,非凡的操作性和设备的高可靠性,从而为客户提高效率,节约成本。
Vue250P技术参数
设备模式 单探头扫描
超声波扫描模式 A-Scan (点扫描)、B-Scan (截面扫描)、C-Scan、
Multi-Scan (多层扫描)、T-Scan (穿透式扫描)、
Tray-Scan (盘扫描)、Jump-Scan (跳跃扫描)、
HTS (高速扫描)、SALI-Scan(断层显微成象扫描)
最大分辨率 10000X10000像素
最大扫描区域 250mmX150mmX35mm(xyz)
最高扫描速度 500mm/s
超声波探头频率 10-220MHz
设备尺寸 610mm x 640mm x 500mm(dwh)


Insidix 热变形外貌检测仪
Insidix公司,是法国著名的平整度特性测量,非破坏性测试提供全面解决方案的领导者,为全球微电子工业,半导体行业、及PCB(线路板生产)工业提供先进的基板及封装测量解决方案。
INSIDIX TDM 运用Projection Moiré完美模拟Reflow状态,实现平整度,共面性以及热变型测量,得到样品Warpage, Deformation,CTE Measure
TDM技术优势
非接触式双面加热, 上下表面温差小
快速的升温,降温速率
完美的Reflow模拟
可同时测量warpage以及变形值, CTE等
可测量BGA ball以及leader共面性和变形值
测量精度高
可同时测量多个样品
TDM主要技术参数
最大样品尺寸: 600mmx 420mm
视场范围: 10mmx10mm---400mmx400mm
视场深度: 40mm
温度范围: -60°C ~ +400°C
升温速率: 最大6度每秒
降温速率: 最大3度每秒
3Dcamera: 500万像素
测量精度: +/-1micron or 2% of measured value

Dage X光检测设备 Q5
Quadra™ 5
X光管设计在底部,通过等中心线设计操作平台的移动和影像探测器的倾斜,所有的控制可通过软件简单的点击操作完成,不需要摇杆操作。如此可实现产品的安全无碰撞检测。所有的功能可以简单快捷进行自动检测,而不需要进行复杂的编程技术。另外可选配微CT功能。
参数
• Nordson DAGE NT500免换灯丝密封透射式X射线管:
电压在30~160KV,标靶功率小于4W的状态下,可达到0.5um的分辨率
标靶功率大于4W的状态下,分辨率为0.95um
电压在110KV以上是可达到最高10W 的标靶功率
自动稳压光管
• 2,500 倍光学放大倍率 (5,200 倍系统放大倍率)
• 在数码放大的情况下最高可达15,600倍
• 简单,无碰撞,高放大倍率,高解析度检测系统:
在倾斜角度下检测同样具备上述特点
无摇杆,鼠标点击操作
• 最大样品检测尺寸:29” x 22.8” (736 x 580 mm)
• 最大检尺寸:20” x 17.5” (508 x 444 mm)
• 达70度倾斜角检测
测试点360度环绕旋转检测
等中心操作平台结构保证了可视范围内的影像分辨率。
• 使用寿命长的200万像素(1600*1200像素比) CMOS数字探测器:
25帧/秒的全息”实时”影像成像系统
实时影像增强功能
• 16位数字影像处理系统
• 防震动控制处理
• 24” TFT LCD显示器操作
• 防震动控制处理
• 24” TFT LCD显示器操作
•可 配选项:微CT(3D检测)、 X-Plane和双显示器
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