YESTech 自动光学检测系统
YESTech始终是电子检测行业中的创新者，致力于为电子市场提供功能强大且价格适宜的检测设备和仪器，并为用户提供改善质量和提高产能的有效解决方案。
依靠先进的技术和创新的理念，YESTech不断地发展和制造出高质量的检测设备，以满足市场和用户连续发展的需求。
M1m系列AOI
分辨率: 2048 x 1536, USB 2.0摄像机, 3微米像素
•光源照明系统: 专利的Fusion光源TM 同轴LED白光（亮视场）, RGB光
•检测速度: 75-125 sq.mm/ sec.
•检测高度: 1”正面, 2”反面
•操作系统: Windows 7
•最大托盘尺寸: 14” x 10”
•功能性: 可编程,USB2.0, SMEMA接口, 双向可调宽度导轨, 托盘夹具
•占地面积: 34.5” x 40” x 55”
M1m 检测能力
引线缺陷：
•引线缺失
•引线翘起
•引线损伤
•引线断裂
•引线弯曲
•引线未粘结
•脱离焊盘
•粘结不良 ……
March等离子清洗系统
AP-600等离子清洗系统
Matrix在线X-ray检测系统
Nordson Matrix AXI是为高速自动化表面贴装生产线设计的先进的X光在线检测系统。X射线透射结合独特的专利Slice-Filter-Technique (SFT)技术和多角度视图提供了一个对双面组装印刷电路板可靠的快速的在线检测方案。配备了可编程移动的相机，可以实现快速的在不同的角度和方向获取最好图像的质量和解析度
■ 典型的应用：
对电子生产行业的独一无二的高级算法库，包含元件检测，焊接工艺质量的检测，模块贴装的焊接工艺质量的检测，和元件内部制造工艺的检测 所有标准化的表面贴装元件和过孔THT/PTH元件
特殊定制的BGA和QFN 算法 侧视图的分析，例如对 e.g.BGA (HIP) PTH/THT pin中间的焊接
高阶的散热单元的焊接空洞工艺检测
■ 特点：
l高速的在线和离线的AXI系统配备 直射: 3-4 图像/秒 斜射: 2-3 图像/秒 ； l微焦距的X射线发射源 (闭管)130kV/40W 大角度 ； l5-轴可编程运动系统保证高速的检测 ； l数字 CMOS 平板探测器配置 在u/v运动系统 (14 位数字输出，1.5k x 1.5k) 自动灰阶层级和多边形校验 在线过板设定包含自动宽度调节 ； l自动条码枪(1D/2D)配备，根据条码可以用于自动程序切换 ； l可定制化的MES接口保证了可追溯性。
日立扫描电镜
热场式场发射扫描电镜 SU3500
特点：
低加速电压观察时分辨率更高，可更好地观察样品最表面的细微形状和更有效地降低样品的损坏
全新设计的电子光学系统和信号处理技术实现了高速扫描和低噪音的观察
和以前的常规扫描电子显微镜相比＊2，自动功能缩短＊3了大约11秒
具有在低真空时可以非常好地观察样品最表面的细微形状的“UVD（超高灵敏度可变压力探测器）”＊4
具有实现了实时立体成像的“实时立体观察功能”＊4
日立台式扫描电镜 TM4000Plus
产品简介：
“TM4000”和“TM4000Plus”可简化从样品观察、图像确认到生成报告等一系列操作过程，大幅提高了工作效率。还标配了报告生成功能，观察结束后可十分轻松地将拍摄的图像制作成Microsoft®Word®、Excel®、PowerPoint®格式的报告。此外，选配项还可实现更多功能。可在样品仓内加装光学相机来拍摄照片，以往通过经验寻找目标位置*1，现在可在显示屏上直接操作。在拍摄SEM图像时，由于“TM4000”和“TM4000Plus”配置双轴马达台*2，原来需手动调整的操作，现在只需在显示器上选择要观察的位置即可。
另外，在确认拍摄的SEM图像时，由于SEM图像放大倍率高，找到所有SEM图像的观察位置需要花费一定时间。而这两种机型可使用软件将低倍率和高倍率SEM图像的位置关系进行关联，并将结果显示在显示器上，使各图像的位置更为直观。
产品特点：
报告生成简单化 仪器支持输出Microsoft公司发行的Word®、Excel®、PowerPoint®格式，预置图像插入模板，生成报告非常简单。 2．可根据观察目的设置仪器 样品仓内的真空度及加速电压有多种选择，可根据需求自行设置。 3．简化寻找视野、图像拍摄、图像确认等一系列操作过程（选配） 通过在样品仓内安装光学相机来拍摄整个样品，可实现在显示器上观察样品的同时，寻找样品目标位置。而且，仅需在显示器上点击希望观察的位置，即可进行SEM图像拍摄。还可使用软件将低倍率和高倍率SEM图像的位置关系进行关联，并将结果显示在显示器上，使各图像的位置更为直观
应用领域：
生命科学
材料科学
化学
电子制造
食品工业
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