●　可选配高温测试环境

●　可选直筒显微镜，体式显微镜

●　载物台气浮快速移动

●　可选配高压高流测试环境

●　platen上下结构，可正反面同时扎针

●　载物台双面镂空，可替换，一个镂空夹具，一个载物台(两个吸附孔)

●　背置式直筒显微镜，zoom为0.58-7.5x

●　Platen微调行程为40mm，移动分辨率为1um,四点同步

●　Failure analysis集成电路失效分析

●　Wafer levelreliability晶元可靠性认证

●　Device characterization元器件特性量测

●　Process modeling塑性过程测试(材料特性分析)

●　IC Process monitoring制成监控

●　Package partprobing IC封装阶段打线品质测试

●　ESD&TDR testing ESD和ITDR测试

●　Microwave probing微波量测(高频测试)

●　PCB领域检测分析

●　射频测试探头及电缆

●　低漏电电流/电容测试

●　激光修复

●　探针卡/封装/PCB板夹具

●　有源探头

●　高压高流模块

●　高清数字相机

●　Hot Chuck

●　载物台水平调节机构

●　各种型号示波器

●　各品牌半导体参数分析仪，博测，是德，泰克，概伦等

●　各种品牌的网络分析仪，是德，罗德施瓦茨，思仪等

●　各种品牌型号的源表