满足各种封装形式的二极管、三极管、场效应管、IGBT单管和可控硅等半导体分立器件高温反偏/栅偏试验(HTRB /HTGB)和高温 漏电流测试(HTIR)。
烘箱最高试验温度可选配 150 /175 / 200℃， 同时设备替换相应耐温 的线材，以及相对应的 耐温不同的老化板
基于X系列的硬件配置， 系统自动识别超限报警 工位，并以 2s 间隔连 续快速抓取该工位的 最后50~100个数据
试验开启时系统根据上位 机软件设定对开启区域 自动加载温度/试验电压 等条件
试验全过程实时监测 所有实验工位的试验参数 及超限状态，便于用户 进行失效分析
| 高温试验箱 | 最高试验温度：150 / 175 / 200℃；均匀性：在150℃时±3℃；波动度：±0.5℃； |
| 容量 | 16通道；80工位-单板；1280工位-整机 |
| 试验电源 | 4台；量程范围：Max 2000V |
| 驱动检测板 | |
| 数量 | 16块 |
| 电压检测范围 | 0.0V～2000.0V； 分辨率：0.1V；精度：±(1%rdg.+1)V |
| 漏电流检测范围 | 0.001μA～50.0mA； 分辨率：0.001μA；精度：±(0.1%rdg.+0.01)μA |
* 可同时并联多台为一组，实现集中监控管理和更大容量、多温区试验
高温反偏/栅偏试验系统
● 带RB/GB自动切换功能
● RB/GB老化板通用
● pA级采样精度
● 单工位自动切断功能
微波器件高温反偏试验系统
● GaN器件专用
● 双电源加载(独立负压截止)
● 单工位继电器自动切换功能
高温反偏试验系统（大容量）
● 32通道，大型
● 适配大批量试验要求
● 整机多重保护
高温反偏试验系统（小容量）
● 8通道，小型
● 适配小批量试验要求
● 整机多重保护
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