

Quadra 3 Pro 搭载行业领先的X射线检测技术,具备750nm特征分辨能力,可生成高达160万像素的超高清X光图像,并点对点地显示在一个超宽曲面显示器上。我们用最新的科技,确保锐利的画质,不让您错过任何细节。
QuadraⓇ 3Pro是您进行高标准X光检测时可靠的工具与伙伴。它能为产线的质量控制应用提供足够高的放大倍率。可以有效地检测到一系列生产时会发生的缺陷。比如BGA,QFN或者IGBT芯片贴装时的问题,PTH锡的填充情况,结合面的空洞,元件的开裂以及用于甄别仿冒品。
RevalutionTM控制软件具有简单直观的菜单及控制功能,便于快速开展工作。主界面布局可自定义,每个操作员都可保存自己习惯的布局,以获得更流畅的操作体验。
提供自定义滤镜和图像增强功能,满足您的应用需求。通过鼠标简单的点击,即可迅速地完成缺陷分析,或生成自动化检查程序。
OnyxmTM由我们的半导体专家团队自主设计研发,致力于提供业界最佳性能。成像单元拥有世界一流的规格表现,可同时兼顾低光照时所需的高敏感性以及高照度时所需的耐饱和性。Onyx"具有更高帧率、更低噪声,能更快速地为您提供更清晰的图像。
| Onyx Gadox检测器 | |
| 像素分辨率 | 1.6MP |
| 帧率 | 25 fps |
| 有效像素尺寸 | 70um |
| 有效成像面积(mm^2) | 7800 |
| DAGE QuadraNTTMX射线管 | |
| 光管类型 | Mk4 15W封闭式透射管 |
| 特征分辨率 | <750nm |
| 最大靶功率 | 15W |
| 电压 | 30-160kv |
| 检测 | |
| 斜角视图 | 2x70°-无需旋转样品可实现样品360观察。 |
| 防振 | 被动减振 |
| 可检测区域 | 510x445mm(20x17.5英寸) |
| 几何放大倍率 | 2000倍 |
| 图像色深 | 16位 |
| 显示器 | 34英寸超宽显示器(3440x1440) |
| 系统 | |
| 设备尺寸 | 1570(宽)x1500(深)x1900(高)mm |
| 系统重量 | 1950 kg(4300磅) |
| 电源 | 单相200至230V交流电,50/60HZ,16A 50/60Hz, 16A |
| 能耗 | 1kW |
| 气源 | 5-8巴清洁干燥的空气,用于防振 |
| 运行温度 | 10至30°C |
| 湿度 | <85%无冷凝水附着 |
| 操作方式 | 鼠标点击 |
| 软件 | Revalution |
| 操作系统 | Windows 10 64位操作系统 |
| X射线安全性 | <1微西弗/小时 符合所有相关的国际标准 |
| 可选配件 | |
| X-Plane® | 无需额外硬件实现 平面CT扫描 |
| uCT | 使用uCT平台创建高分辨率三维模型 |
| 条形码读取器 | 轻松完成产品追溯 |
| 操纵杆 | USB接口的操纵杆模块 |
| 辐射过滤盘 | 降低样品曝露于X射线下的剂量 |
| 晶圆托盘 | 用于放置300mm和200mm晶圆 |