超声波扫描显微镜-VUE 400-P NexGen-双赢电子科技国际有限公司

VUE400-P高清成像超过了现代标准，为半导体制造设施提供优质的失效分析功能。基于当前的平台和行业反馈，ODIS是最新的声学显微镜软件，具有丰富的技术内容。通过定量软件功能提供高级分析，适用于零件的测量和分类。

0DIS的离线分析版本允许客户在非扫描计算机下进行虚拟扫描、以便客户查看和分析数据，实时分析或收集数据和审查结果。

产品详情

客户界面	双高清22"LED显示器
治具	托盘治具
仪器仪表	数字脉冲接收器数字转换器(Max12 GHz)
用户体验特点	双JEDEC托盘高清LED照明不锈钢水槽
免维护扫描X轴	扫描轴: 线性伺服系统最大扫描速度: 1500 mm/s 准确性&重复性: +/-0.5 micron 扫描极限范围: X轴扫描范围: 400mm Y轴扫描范围: 380mm Z轴聚焦范围: 35 mm C-Scan范围: 360mmx350mm T-Scan范围: 360mm x 220mm 设备重量: 250 Kg.

软件运行模式:

●　基本模式(简单的用户界面)

●　高级模式(详细分析界面)

●　生产模式(自动扫描界面)

●　离线分析模式(虚拟扫描界面)

OKOS Digital Imaging System (ODIS)

0DIS的离线分析版本允许客户在非扫描计算机下进行虚拟扫描、以便客户查看和分析数据，实时分析或收集数据和审查结果。

●　产品真伪检测

●　产品可靠性检测

●　工艺有效性验证

●　供应商资格验证

●　产品检验

●　质量控制

●　失效分析

●　研究与试验发展

提供高质量的分辨率多探头设计，增强扫描能力