VUE400-P高清成像超过了现代标准，为半导体制造设施提供优质的失效分析功能。基于当前的平台和行业反馈，ODIS是最新的声学显微镜软件，具有丰富的技术内容。通过定量软件功能提供高级分析，适用于零件的测量和分类。

0DIS的离线分析版本允许客户在非扫描计算机下进行虚拟扫描、以便客户查看和分析数据，实时分析或收集数据和审查结果。

VUE 250-P 高清成像超过了现代标准，为半导体制造设施提供 优质的失效分析功能。 基于当前的平台和行业反馈，ODIS是最 新的声学显微镜软件，具有丰富的技术内容。通过定量软件功能 提供高级分析，适用于零件的测量和分类。

ODIS 的离线分析版本允许客户在非扫描计算机下进行虚拟扫 描、以便客户查看和分析数据，实时分析或收集数据和审查结 果。

MACROVUE-P成像能力超越现代标准，为半导体制造工厂提供高端FA实验室功能。

ODIS是基于当前平台与行业反馈研发的最新声学显微镜软件，内置丰富技术内容。通过量化工具提供零件测量与分类的高级分析功能。

ODlIS的分析版使非扫描计算机能够实现虚拟扫描、查看和分析数据，支持实时同步分析或采集后复核。

●　PCI Express总线接口

●　8 位分辨率

●　125 mV至2V输入范围

●　示波器软件

●　可配置为3 GHz时的1个信道或3 GHz时2个信道

●　软件开发工具包C/C++、C#和VB

●　每个传感器都有不同的焦距

●　标准焦距为2、3、4、5.9、6、7、8、10.2、12.7和15毫米

●　高频传感器焦距范围为2至10毫米

●　低频传感器焦距范围为6至15毫米

●　40mm和其他定制长度可供选择

●　MUF探头有6、9和11毫米三种尺寸