VUE 250-P 高清成像超过了现代标准，为半导体制造设施提供 优质的失效分析功能。 基于当前的平台和行业反馈，ODIS是最 新的声学显微镜软件，具有丰富的技术内容。通过定量软件功能 提供高级分析，适用于零件的测量和分类。
ODIS 的离线分析版本允许客户在非扫描计算机下进行虚拟扫 描、以便客户查看和分析数据，实时分析或收集数据和审查结 果。
| 客户界面 | 双高清22”LED显示器 |  |
| 治具 | 开放式基座 | |
| 仪器仪表 | 数字脉冲接收器 数字转换器 (Max 4 GHz) | |
| 用户体验特点 | 高清LED照明 不锈钢水槽 | |
| 免维护扫描X轴： | 扫描轴: 线性伺服系统 最大扫描速度: 500 mm/s 准确性 & 重复性: +/- 1.0 micron 扫描极限范围: 322.6 mm | |
| 低维护步进Y轴: | 极限范围: 136 mm | |
| 低维护聚焦Z轴: | 聚焦范围: 35 mm | |
| 外形尺寸: | 700 mm x 560 mm x 470 mm (W/D/H) 81 kg |
● 基本模式(简单的用户界面)
● 高级模式(详细分析界面)
● 生产模式(自动扫描界面)
● 离线分析模式(虚拟扫描界面)
VUE 250-P 高清成像超过了现代标准，为半导体制造设施提供 优质的失效分析功能。 基于当前的平台和行业反馈，ODIS是最 新的声学显微镜软件，具有丰富的技术内容。通过定量软件功能 提供高级分析，适用于零件的测量和分类。
0DIS的离线分析版本允许客户在非扫描计算机下进行虚拟扫描、以便客户查看和分析数据，实时分析或收集数据和审查结果。
● 产品真伪检测
● 产品可靠性检测
● 工艺有效性验证
● 供应商资格验证
● 产品检验
● 质量控制
● 失效分析
● 研究与试验发展
提供高质量的分辨率多探头设计，增强扫描能力
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