HED-C5000R是一款专用于模拟器件带电模式(Charged-DeviceModel，CDM)的测试机，以测试封装级半导体元器件或模组的CDM失效等级。

●　比竞品更小的尺寸，低占用面积，高测试效率;

●　更高稳定性、可重复性地充放电;

●　适用于多种测试标准 JEDEC,ESDA,AEC,JEITA,包括

●　ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2022 和 AEC-Q100-011(FI-CDM,D-CDM);

HED-G5000具备模拟人体放电模式(Human-Body Model，HBM)和机器放电模式(Machine Model,MM)的能力，以测试和评估封装级半导体元器件的抗ESD能力及等级，同时还支持闩锁测试(Latch-up)。

●　支持最大2048个测试通道;模块化设计，允许在客户现场完成配置升级;

●　特殊的接地设计带来超低的寄生电容，符合ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2023对于低寄生电容设备的要求;

●　满足所有静电测试标准,JEDEC，ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2023，AEC,MIL-STD-883,GJB等;

体积小巧,便携式可移动2-pinHBM、MM测试机，无须连接电脑即可实现单机测试，触摸屏式设计，操作简洁，尤其适用于功率器件及低管脚数器件。内置漏电测试单元，用于辅助判断器件是否被ESD破坏。