双赢电子科技国际有限公司
失效分析设备
可靠性设备
研发设备
SMT设备
半导体耗材配件
检测服务

回到首页

失效分析设备
您现在的位置:首页 >> 产品与服务 >> 失效分析设备

工业超声波电子扫描显微镜

超声波电子扫描显微镜是利用超声波的原理来检测产品内部气泡,裂纹和分层等缺陷。对产品本身不构成任何损伤。

超声波电子扫描显微镜(工业设备)无损检测在我们日常生活中是不可缺少的,它能够确保我们产品的完整性。在航空航天、铁路交通、管道、石化、桥梁等诸多领域有着广泛的应用。

Insidix 热变形外貌检测仪

Insidix公司,是法国著名的平整度特性测量,非破坏性测试提供全面解决方案的领导者,为全球微电子工业,半导体行业、及PCB(线路板生产)工业提供先进的基板及封装测量解决方案。 

INSIDIX TDM 运用Projection Moiré完美模拟Reflow状态,实现平整度,共面性以及热变型测量,得到样品Warpage, Deformation,CTE Measure 
 
TDM技术优势 
非接触式双面加热, 上下表面温差小 
快速的升温,降温速率 
完美的Reflow模拟 
可同时测量warpage以及变形值, CTE等 
可测量BGA ball以及leader共面性和变形值 
测量精度高 
可同时测量多个样品
 

TDM主要技术参数 
最大样品尺寸: 600mmx 420mm
视场范围: 10mmx10mm---400mmx400mm
视场深度: 40mm
温度范围: -60°C ~ +400°C 
升温速率: 最大6度每秒 
降温速率: 最大3度每秒 
3Dcamera: 500万像素 
测量精度: +/-1micron or 2% of measured value

Dage X光检测设备 Q5

Quadra™ 5 
X光管设计在底部,通过等中心线设计操作平台的移动和影像探测器的倾斜,所有的控制可通过软件简单的点击操作完成,不需要摇杆操作。如此可实现产品的安全无碰撞检测。所有的功能可以简单快捷进行自动检测,而不需要进行复杂的编程技术。另外可选配微CT功能。
参数                                                                                           
• Nordson DAGE NT500免换灯丝密封透射式X射线管:                        
电压在30~160KV,标靶功率小于4W的状态下,可达到0.5um的分辨率
标靶功率大于4W的状态下,分辨率为0.95um
电压在110KV以上是可达到最高10W 的标靶功率
自动稳压光管
• 2,500 倍光学放大倍率 (5,200 倍系统放大倍率)
• 在数码放大的情况下最高可达15,600倍
• 简单,无碰撞,高放大倍率,高解析度检测系统:
在倾斜角度下检测同样具备上述特点
无摇杆,鼠标点击操作
• 最大样品检测尺寸:29” x 22.8” (736 x 580 mm)
• 最大检尺寸:20” x 17.5” (508 x 444 mm)
• 达70度倾斜角检测
测试点360度环绕旋转检测
等中心操作平台结构保证了可视范围内的影像分辨率。
• 使用寿命长的200万像素(1600*1200像素比) CMOS数字探测器:

25帧/秒的全息”实时”影像成像系统
实时影像增强功能
• 16位数字影像处理系统
• 防震动控制处理
• 24” TFT LCD显示器操作
• 防震动控制处理
• 24” TFT LCD显示器操作
•可 配选项:微CT(3D检测)、 X-Plane和双显示器

Dage X光检测设备 Q7

Quadra™ 7 
X光管类型:封闭穿透式
分辨率:0.1 μm(10W以内),0.3 μm(20W以内)
最大功率:20W
电压范围:30-160kV
像素数:670万像素
帧速率:30 fps
像素间距:50 μm
数字图像处理:16-bit
倾斜角度视图:70°
主动减震:AxiS - 主动式X-ray 图像稳定器
显示分辨率(每英寸像素数):185像素/英寸
最大检测区域:20” × 17.5”
最大样品尺寸:29” × 22.8”
最大几何放大倍数:2,500×
最大总放大倍数:68,000×
最大样品重量(标准推盘):5kg(11 lbs)
最大样品重量(碳纤维推盘):样品重量最大500g
显示器:24" 4K超高清(分辨率3840×2160)双显示器,固定在可完全灵活调整的支架上
选配项:
- X-Plane®                         - 3D可视化(应用于X-plane)
- μCT (3D检测分析系统)    - 单摇杆或双摇杆
- 过滤托盘                          - 加热平台
- CAD输入

英国DAGE推拉力测试系统

英国Dage公司是推拉力测试机(或键合力测试仪,拉力剪切力测试仪)测试技术的市场领导者,Dage4000系列创立的模块化设计理念让配置更灵活,从而使之成为单一或多功能应用均具高性价比的键合力测试系统。具体应用包括:线拉力(wire pull),球推力(ball shear),芯片剪切力(Die shear),丝带黏附力(tweezer pull),冷拔球(cold bump pull)和更专业的螺栓拔力(stud pull)等等。Dage4000推拉力测试机高达90%的市场占有率,使得它已经成为半导体、光电和电路板组装行业的首选测试设备。 
Dage4000 plus推拉力测试系统适用于半导体各种封装形式的金铝铜线和带的拉力和黏合力测试,芯片剪切力及COB封装,光电,LED,SMT组装,元件与基板黏合力测试 
应用范围:钩针拉线( 可选模组量程:100g,1Kg,10Kg ) 
     镊子拉力( 可选模组量程:100g,1kg,5Kg ) 
     焊球推力( 可选模组量程:250g ) 
                  芯片推力( 可选模组量程:5kg,100Kg ) 
                  锡球推力( Max:5Kg ) 
                  管脚拉力( Max:10Kg
 )
主要特点: 
    英国Dage4000 plus推拉力测试系统用于半导体、光电、电路板组装业。适用于所有的拉力(Pull)和推力(Shear )测试,可达到高精度,高重复性,高再现性。 
1.    摇杆操作,简便易学; 
2.    马达驱动 X,Y 自动工作台; 
3.    适用于半导体各种封装形式的金线、铝线和铜线等黏合力的测试,及COB封装、光电、LED、SMT组装、元件与基板黏合力的测试; 
4.    精度和可重复性:任意量程精度为满量程的±0.25%,载荷精度为100ppm(第三方认证),Z轴回升由激光测量,精度为±0.1μm 
5.    业内首选:多次业内获奖,协助制定行业标准 
6.    操作简便:人体工程学设计,操作杆控制,支持中文操作界面 
7.    可靠性/整体支持:GR&R报告确保设备一致性和再现性;全球设有7个办事处 
8.    应用灵活:研发部门拥有20位应用工程师,提供特殊应用解决方案,专业设计定制夹具 
9.    ISO9001-2000认证:Dage键合测试机通过ISO9001-2000认证 
10. 专利技术:全球拥有1052项专利技术

【 首页 】 【 上一页 】 【 下一页 】 【 尾页 】 2/6页 总26记录

版权所有:苏州富艾捷科技有限公司  苏ICP备2025215884号-1    友情链接:Bule M热处理产品  热变形外貌检测(翘曲度)设备  超声波扫描(C-SAM)  锡球产品